功率器件測試系統
功率器件測試系統集成信號發生器、高壓直流電源、測試主回路、高壓保護模組、測試夾具、溫控系統、檢測系統、人機交互等部件于一體，實現功率半導體器件（IGBT、SiC、Diode）動態參數測試，以及配套門極驅動器數匹配測試。產品系列囊括信號發生器、基礎功能型測試平臺、自動集中型測試系統，并支持需求定制開發。
產品特點：
? 安全性高：支持遠程操控，多重高壓保護互鎖，有效保護操作人員安全；
? 測試方便：專用夾具設計，更換測試便捷、高效，檢測系統自動生成測試數據及報表；
? 功能強大：支持雙脈沖測試、短路測試、連續周期脈沖測試、正弦脈沖測試功能；
? 應用較廣：支持IGBT單管/模塊、SiC單管/模塊、二極管模塊、功率模組、門極驅動器參數測試；
? 信號豐富：提供單/雙/多/連續/SPWM脈沖信號；
? 可調性強：測試電壓電流可調、脈沖模式即寬度可調、上下橋臂一鍵切換，負載電感參
數可調，門極驅動器參數可調、測試回路雜散電感可調、測試結溫可調；
? 拓展性強：可增加測試部件，實現測試系統集成。
性能指標 外形尺寸 文件下載 |
產品種類 | 基礎功能型測試平臺 | 自動集中型測試系統 | |
測試對象 | IGBT/SIC-MOS單管、IGBT/SIC-MOS模塊、二極管、功率模組、門極驅動器 | ||
功能模式 | 雙脈沖模式/短路模式/連續周期脈沖模式/正弦脈沖模式 | ||
測試參數 | 開通延時Tdon、上升時間tr、關斷延時Tdoff、下降時間tf、di/dt、dv/dt、開通損耗Eon、關斷損耗Eoff、短路電流Isc、短路時間tp、二極管正向電壓VF、反向恢復電流IRM、反向恢復損耗Erec、雜散電感、關斷尖峰、SOA邊界參數測試、結溫參數測試、并聯均流參數測試、驅動器參數測試 | ||
電壓等級 | 650V/1200V/1700V/3300V/4500V/6500V | ||
電流峰值 | 3000Amax（可定制） | ||
短路電流 | 5000Amax（可定制） | ||
脈沖信號 | 單脈沖/雙脈沖/多脈沖/SPWM | ||
脈沖參數 | 脈寬范圍：0.5us~100us；脈寬分辨率：0.1us | ||
SPWM參數 | 基波頻率、幅值、開關頻率、死區值范圍內可調 | ||
柵極電流 | 30Amax（可定制） | ||
柵極電阻 | 根據測試條件進行手動更換 | ||
負載電感 | 20/45/70/100/150/230/345/520/680μH多檔可調（可定制） | ||
基本部件 | 信號發生器、高壓直流電源、測試主回路、門極驅動器、人機界面、可調負載電感、高壓保護模組 | ||
定制部件 | 測試夾具、溫控系統 | 測試夾具、溫控系統、數據檢測系統、上位機集成系統 | |
基礎功能 | 功率半導體器件/模組開關特性測試、短路特性測試 | ||
模塊上下橋臂自動切換功能 | |||
門極驅動器參數及特性測試功能 | |||
主回路雜散電感測試功能 | |||
IGBT模塊的串并聯動態測試功能 | |||
選配功能 | 柵極驅動電壓可調功能：±20V范圍內可調（選配定制） | ||
功率半導體器件結溫特性測試功能，常溫~175℃（選配定制） | |||
上位機控制系統（選配） | 環溫測試箱（選配） | ||
檢測系統（選配） | 門極參數可調功能（選配） | ||
特定功能 | / | 子系統集成統一上位機控制功能 | |
/ | 一鍵測試并自動生成測試數據報表功能 | ||
功率半導體器件動態參數測試系統.docx | 1011.78KB | 下載 |
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